「低濃度PCB含有廃棄物に関する測定法(第3版)」
「低濃度PCB含有廃棄物に関する測定法(第3版)」 (H26.9 環境省通知) | ||
分析精度管理、試料溶液作製までの分析手順、「絶縁油中の微量PCBの簡易測定マニュアル(第3版)」に記載の分析方法を適用するための手順を示したもの。 「低濃度PCB含有廃棄物に関する測定方法」で前処理し、「絶縁油中の微量PCBに関する簡易測定法マニュアル」のうち、簡易定量法で測定 測定対象:低濃度PCB廃油、低濃度PCB汚染物、低濃度PCB処理物 ・廃感圧紙の分析方法と試料採取方法を追加(第3版) (H29.4.11 環境省通知) |
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第1章 低濃度PCB含有廃棄物に関する測定方法における分析精度管理 | ||
第2章 試料溶液作製までの分析手順書 | ||
1. | 紙くず、木くず、繊維くず、廃プラスチック類(合成樹脂くず、合成ゴムくず等) (含有量試験) | |
2. | 廃活性炭(含有量試験) | |
3. | 汚泥(含有量試験) | |
4. | 廃プラスチック類(表面拭き取り試験) | |
5. | 金属くず(表面拭き取り試験) | |
6. | 金属くず(表面抽出試験) | |
7. | コンクリートくず(表面抽出試験) | |
8. | 塗膜くず(含有量試験) | |
9. | 廃感圧紙(含有量試験) | |
第3章 絶縁油中の微量PCBの簡易測定マニュアル(第3版)に記載の分析方法を適用するための手順書 | ||
1. | 「2.1.1高濃度硫酸処理/シリカゲルカラム分画/キャピラリーガスクロマトグラフ/電子捕獲型検出器(GC/ECD)法」への接続手順 | |
2. | 「2.1.2加熱多層シリカゲルカラム/アルミナカラム/キャピラリーガスクロマトグラフ/電子捕獲型検出器(GC/ECD)法」への接続手順 | |
3. | 「2.1.3硫酸処理/ジビニルベンゼン-メタクリレートポリマーカラム分画/キャピラリーガスクロマトグラフ/電子捕獲型検出器(GC/ECD)法」への接続手順 | |
4. | 「2.1.4ゲルパーミエーションクロマトグラフ/多層シリカゲルカラム/キャピラリーガスクロマトグラフ/電子捕獲型検出器(GC/ECD)法」への接続手順 | |
5. | 「2.1.1溶媒希釈/ガスクロマトグラフ/高分解能質量分析(GC/HRMS)法」への接続手順 | |
6. | 「2.3.1加熱多層シリカゲルカラム/アルミナカラム/ガスクロマトグラフ/トリプルステージ型ガスクロマトグラフ質量分析計(GC/MS/MS)法」への接続手順 | |
7. | 「2.4.1加熱多層シリカゲルカラム/アルミナカラム/ガスクロマトグラフ/四重極型質量分析計(GC/QMS)法」への接続手順 | |
8. | 「2.5.1スルホキシドカートリッジ/負イオン化学イオン化質量分析計(GC/NICI-MS)法」への接続手順 | |
9. | 「2.7.1加熱多層シリカゲルカラム/アルミナカラム/フロー式イムノセンサー法」への接続手順 |